Jelajahi Dunia Nano dengan Mikroskop Elektron Pemindai Mutakhir

Scientific Imaging Center (SIC), Institut Teknologi Bandung (ITB), berhasil menyelenggarakan Seri Lokakarya II: Menjelajahi Dunia Nano dengan Mikroskop Elektron Pemindai Mutakhir pada tanggal 27–28 Mei 2025. Lokakarya dua hari ini dirancang untuk memperluas pengetahuan dan keterampilan praktis peserta dalam mikroskopi elektron, dengan fokus pada aplikasi Mikroskop Elektron Pemindaian (SEM) Desktop Thermo Scientific Phenom XL G2 untuk penelitian dan karakterisasi ilmu material.

Lokakarya ini menampilkan kuliah dan sesi pelatihan praktik yang disampaikan oleh Prof. Dr. Suprijadi, M.Eng., Dosen di Departemen Fisika, FMIPA ITB, dan Fitria Dwi Ayuningtyas, Ph.D., Manajer Fasilitas Pusat Pencitraan Ilmiah. Sesi kuliah memperkenalkan peserta pada prinsip-prinsip dasar mikroskop elektron pemindaian (SEM), perannya dalam karakterisasi material, dan aplikasi SEM yang sedang berkembang dalam penelitian ilmiah multidisiplin.

Sebanyak 21 peserta menghadiri lokakarya tersebut, mewakili universitas, lembaga penelitian, dan laboratorium dari seluruh Indonesia. Peserta utamanya berasal dari Institut Teknologi Bandung (ITB), Universitas Padjadjaran, BRIN, Universitas Hang Tuah, dan beberapa organisasi akademik dan penelitian lainnya. Keberagaman latar belakang peserta, mulai dari mahasiswa dan peneliti hingga profesional laboratorium, menyoroti semakin pentingnya teknologi SEM dalam penelitian dan aplikasi industri.

Lokakarya tersebut menekankan peran penting Mikroskop Elektron Pemindaian (SEM) sebagai alat analisis utama untuk menyelidiki struktur material dan morfologi permukaan dari skala mikro hingga nano. Melalui kuliah yang komprehensif, peserta memperoleh pemahaman tentang prinsip kerja SEM, mode pencitraan, persyaratan persiapan sampel, dan teknik interpretasi gambar yang penting untuk analisis material yang akurat.

Selain sesi teori, peserta terlibat dalam pelatihan praktik interaktif menggunakan Thermo Scientific Phenom XL G2 Desktop SEM. Kegiatan praktikum meliputi teknik persiapan sampel, pengoperasian instrumen, akuisisi gambar, dan alur kerja karakterisasi material dasar. Sesi-sesi ini memberikan para peserta pengalaman langsung yang berharga dalam memanfaatkan teknologi SEM untuk tujuan penelitian dan pengembangan.

Dengan mengintegrasikan kuliah dengan demonstrasi praktis, lokakarya ini berhasil meningkatkan pemahaman peserta tentang mikroskopi elektron dan memperkuat kompetensi mereka dalam teknik pencitraan tingkat lanjut. Program ini juga memperkuat misi SIC untuk menyediakan akses ke instrumentasi ilmiah mutakhir sekaligus mendorong kolaborasi antara peneliti, akademisi, dan profesional industri.

Melalui inisiatif seperti Seri Lokakarya II, SIC terus memperkuat perannya sebagai pusat nasional untuk pencitraan ilmiah, pelatihan mikroskopi tingkat lanjut, dan kolaborasi penelitian interdisipliner di Indonesia.

Sorotan Lokakarya

  • Acara: Workshop Series II – Explore the Nano World with the Cutting-Edge Scanning Electron Microscope
  • Tanggal: 27–28 May 2025
  • Lokasi: Scientific Imaging Center (SIC), Institut Teknologi Bandung
  • Peserta: 21 peneliti, mahasiswa, and profesional laboratorium
  • Pembicara: Prof. Dr. Suprijadi, M.Eng. dan Fitria Dwi Ayuningtyas, Ph.D.
  • Instrument: Thermo Scientific Phenom XL G2 Desktop Scanning Electron Microscope
  • Topik yang Dibahas: Prinsip SEM, karakterisasi material, persiapan sampel, teknik pencitraan, dan interpretasi data.
  • Hasil: Peningkatan kompetensi peserta dalam mikroskopi elektron dan analisis material skala nano.

Keberhasilan penyelenggaraan lokakarya ini menunjukkan komitmen berkelanjutan SIC untuk memajukan pendidikan mikroskopi, mendukung penelitian berkualitas tinggi, dan mengembangkan ekosistem pencitraan ilmiah di Indonesia.

Balas Komentar